Лекція присвячена обмеженням дифракційних методів, які використовуються для вимірювання структури матеріалів. Розглядалися похибки дифракційних методів, такі як систематичні похибки у вимірюваннях даних, які виникають при порушенні умов фокусування, а також аксіальна розбіжність пучка, яка призводить до зсуву положень піків. Зсув зразка з площини відбиття та перекриття дифракційних максимумів є методичними похибками дифракційних методів. Крім того, розглянуто інструментальні похибки, такі як визначення позиції (дрейф нуля), визначення інтенсивності та вплив на напівширину.