Дифрактограма є результатом проведення рентгенівської, синхротронної або нейтронної дифракції і містить інформацію про кут відбиття та інтенсивність. Для ідентифікації речовини можна скористатись базами диференційних даних, які містять теоретичну дифрактограму та розрахункові картки з параметрами елементарної комірки. Якщо не вдалося знайти аналогічну речовину у базі даних, можна використовувати графічний метод порівняння дифрактограм з номограмами, які визначають сингонію та індекси Міллера. Проте, для складніших сингоній такий метод може бути непридатним, тому існує метод, який полягає у створенні моделі кристалічної структури та порівнянні розрахункового та експериментального профілів. Для повнопрофільного аналізу дифрактограми необхідно створити теоретичну функцію, що описує інтенсивність дифракції як суму трьох складових: відбиття від кристалографічних площин, фону та шумової складової. Для перевірки коректності розрахунків існують критерії, а візуальне порівняння розрахункових та експериментальних профілів може використовуватись для попередньої перевірки.